電気特性検査スマートシステム 精密が品質の未来を定義する
高密度プロービングからソフト・ハード一体の技術革新まで、興城科技は常に高度化を追求し、自動化電気特性検査プラットフォームを構築しています。
電気測定設計、治具技術、非接触・微小電気検査技術を組み合わせ、高精度計測と高速検査を実現。
半導体封止、IC キャリア基板、プリント基板製造向けに、高い信頼性と品質基準に応える検査装置を提供します。
測定効率とデータ精度を向上させ、テクノロジーとエンジニアリングの最適解を追求しています。
製品特長
CENTRUM TECHNOLOGY の電気特性検査の強み
高精度測定 × インテリジェント統合 —
複数のコア技術を統合し、安定性と生産性に優れた量産電気検査システムを実現。
高品質なプリント基板（PCB）および IC 基板の厳しい要求に対応し、
半導体パッケージの精密検査にも対応可能。
全工程のモニタリングと歩留まり管理を強化し、高い品質保証と製造効率を提供。
治具式検査（Fixture Testing）
接触式プロービングによる高精度・高安定検査。
非接触検査（Non-Contact Testing）
電磁・光学手法による非接触の高速検査。
組込み検査（Embedded Testing）
基板内蔵・フライングプローブなど多方式に対応した統合検査。
